PL-8810

三、降格（疵品/Out Grade）处理

    降格的情况有几种：

        一、对用户来说，由于使用当或老化、强电、强腐蚀等不可以抗拒因素而使NAND FLASH产生新的坏区,使USB容量减少。

        二、对厂家来说，采用有坏区的NAND FALSH生产低一级容量的USB盘或机片并接起来生产。

处理办法：

    一、对于第一种情况，将新的坏区从总容量里扣除，可使用的容量将减少。如31.1M的总容量，新坏了2.9M,可用容量将显示28.2M。

    二、对第于第二种情况，在生产调试时，低级格式化将舍零取整。如两片有坏区的16M NAND FLASH可用容量加起来是24M,舍令取整后，将丢掉8M成为标准的16的容量。

    三、多片并接时，第一片(接CE_0)的起始部分不能全坏。如果全坏，可能会影响一些性能，如上电启动速度等。建议起始16个BLOCK（NAND FLASHRR的定义）中没有坏区。

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